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AI算力時代,高速服務(wù)器PCB制作技術(shù)探討

00

技術(shù)概述

      對于高速 PCB,信號傳輸損耗主要為介質(zhì)損耗和導(dǎo)體損耗。其中,高速信號在傳輸過程中的介質(zhì)損耗與材料的介電常數(shù)、損耗因子及傳輸頻率等因素有關(guān)而導(dǎo)體損耗主要包括趨膚效應(yīng)導(dǎo)致的熱損耗和導(dǎo)體粗糙度導(dǎo)致的反射和疊加損耗。因而,PCB制作首先選擇低損耗材料,其次線路制作技術(shù),再次為鉆孔技術(shù)其中尤為控深鉆(俗稱背鉆),背鉆是減少一段通孔的存在則容易造成信號傳輸?shù)姆瓷浜蜕⑸?,抵消電路信號產(chǎn)生的電感,最大程度降低信號損耗失真現(xiàn)象才可確保信號傳輸穩(wěn)定,高速、高效、技術(shù)被開發(fā)充分利用。

      本文通過服務(wù)器 PCB 22 層線路的制作設(shè)計要求制作工藝技術(shù)等方面,給出一套可行的方案。


01

技術(shù)難點

1、PCB 阻抗/損耗(Loss)影響因素

1.1材料特性

      高速產(chǎn)品對 PCB 有著高傳輸速率、低信號損耗的要求,而這些性能與PCB 板材的介電常數(shù)和損耗因子密切相關(guān)。一般地,按損耗因子的高低,基板材料可分為:

① Standard Loss(D:0.015~0.020)

② Mid Loss(Df:0.010~0.015)

③ Low Loss(Df:0.0065~0.01)

④ Very LowLoss(Df:0.003~0.0065)

⑤ Ultra LowLoss(Dr:<0.003)

五個等級。故在選擇材料時需要綜合考慮,材料性能從板材玻璃轉(zhuǎn)化溫度值(TG)、熱分解溫度值(TD),空間膨脹系數(shù)(X-Y-Z軸)、耐熱性(T260-T288)、介電常數(shù)值 (DK)、介質(zhì)損耗值 (DF),剝離強度值 (Peel)、吸水率 (Moisture Absorption)等幾個方面進行綜合評估??蛻糁付ú牧瞎?yīng)商給 PCB 板材生產(chǎn)。本次客戶指定松下低損耗材料 R5775(G)(DK:3.46,DF 0.005),客戶沒指定材料時,必須細心地選擇相關(guān)材料,才能達到既有利于生產(chǎn)加工可行性與生產(chǎn)效率,又能夠達到高性價比的產(chǎn)品設(shè)計要求。


1.2 線路技術(shù)

       PCB 阻抗/損耗中導(dǎo)體損耗主要為線路品質(zhì)差異產(chǎn)生。其品質(zhì)體現(xiàn)在線路的尺寸數(shù)據(jù)的管控,數(shù)據(jù)表現(xiàn)為線寬的均勻性,線路銅層厚度及其表面粗糙度。而銅箔粗糙度箔有低輪廓銅箔(HVLP 銅箔)、反轉(zhuǎn)銅箔(RTF 銅箔)和高延伸性銅箔(HTE 銅箔)在驗證LOSS結(jié)果時,本文客戶指定使用反轉(zhuǎn)銅(RTF銅箔)往往單獨設(shè)計 LOSS 模塊驗證。通常設(shè)計采用2inch,5inch 和 10inch 的線路長度,輔以過孔背鉆方式。


1.3 鉆孔控深鉆技術(shù)

      背鉆主要是在通孔中去除一段孔銅,當鉆去多余孔銅時,信號則按原路返回,此時即可抵消去路信號產(chǎn)生的電感,最大程度降低信號失真現(xiàn)象。而去除通孔深度和殘留部分深度(簡稱殘樁)值的多少直接影響信號的損耗程度,也成制約最終阻抗和損耗(Loss)達標的重要因素之一。


2、現(xiàn)狀分析

2.1 材料選用

       本文簡述一種 22 層服務(wù)器主板的制作,用作新能源服務(wù)器電源領(lǐng)域。生產(chǎn)使用T型低損耗 R-5775(G)(指定)材料,TG>180℃(指定),客戶指定M6(G)板材,外層銅箔使用低粗糙度銅箔(RTF 銅箔,俗稱反轉(zhuǎn)銅箔)完成 PCB 最小相比耐漏電起痕指數(shù)(CTI)>175。成品板厚2.95mm+10%,內(nèi)層使用1/10Z和 2/20Z,不同厚度的芯板,要求制作完成內(nèi)/外層線路寬度:3.5mil??足~厚度規(guī)格:Min為0.8mil,面銅規(guī)格:1.9~2.2mil。高縱橫比:14.75:1,阻抗信號完整性標準(SI Coupon),背鉆孔和電鍍孔塞填樹脂后再鍍銅蓋孔成 PAD(POFV 工藝)。依據(jù)常規(guī) PCB 正常流程進行 FA批制作完,測試分析阻抗合格,插損 (Loss)超標和孔銅偏厚的異常問題出現(xiàn)。常規(guī)PCB 設(shè)計流程制作不易達到客戶要求。


02

技術(shù)創(chuàng)新

1、服務(wù)器 PCB 的損耗(Loss)的 DOE 設(shè)計試驗

       通過 FA 批產(chǎn)品前期測試,根據(jù)內(nèi)層使用油墨和干膜、線路多補償 0.2mil(油墨)和 0.4mil(干膜),三種不同的藥水棕化,分別在一處和六處,各種條件生產(chǎn)制作 2PNL,共設(shè)計8種方案制作16PNL。

表1 高速PCB低損耗不同條件制作測試表

       通過分析 PCB 中影響損耗的因素排查,進行 DOE實驗確定出最佳工藝條件,選擇合適的工藝參數(shù)。找出四個重要的因子(線寬,介厚,棕化粗化,排版角度),線寬補償:低水平多補5um,高水平多補10mm;PP含膠量:低水平70%,高水平75%;排版角度:低水平傾斜3度,高水平傾斜7度;化藥水,傳統(tǒng)藥水,高水平低粗糙度藥水。進行全因子試驗,在中心點進行3次試驗,一共 19 次試驗。用 Minitab 實現(xiàn)。

圖5 損耗的四因子2水準的 DOE 試驗圖

      圖5試驗結(jié)果顯示,通過線寬比正常補償多補償5μm,介厚 PP 含膠量在 75%( 以前 70%),A系列超低粗化棕化藥水,B系列傳統(tǒng)棕化藥水,排版傾斜7度(以前3度)的參數(shù)制作出PCB的損耗最小,依據(jù)客戶提供 SI(信號完整性標準)測試 Coupon,測量 Loss 條中 2、5、10inch的線在4GHz,8GHz,12.89GHz,16GHz內(nèi)外層的 85 歐姆 1oss 值。圖中顯示出的是 2inch Loss條在 4GHz的內(nèi)層 85 歐姆的 Loss值。檢測結(jié)果 0.286db/inch,在16次測試值中最小,并小于最大值 0.35db/inch。其它的測試值逐一驗證,其結(jié)果皆顯示同樣的標序11條件(線寬多補償0.2mil,75%含膠PP,ATO棕化藥水,排版傾斜7度),Loss 值最理想。呈現(xiàn)出較好的結(jié)果優(yōu)勢,測試出工藝制作最佳的條件參數(shù)。

表2 22層服務(wù)器PCB板測量Loss值


2、PCB 工藝流程優(yōu)化

       22 層服務(wù)器高速 PCB,原工藝流程制作完成后出現(xiàn)控深孔孔徑偏小現(xiàn)象,經(jīng)分析為鍍銅偏厚造成,此PCB電鍍經(jīng)過板電、CAPPING電鍍和圖形電鍍共計三次電鍍制程作業(yè)。

(1) PCB 的原流程

開料→內(nèi)層→內(nèi)檢一壓合一鐳射盲孔一鉆孔1→板電→圖電1→鉆孔2→樹脂塞孔→外層1→減銅一研磨→CAPPING 電鍍→外層2→圖電2→背鉆→堿性蝕刻→外檢→防焊一文字→→阻抗測試化金一鉆孔3 →成型→成測→ FQC→包裝

(2) PCB 的新流程

開料→內(nèi)層→內(nèi)檢一壓合一鐳射盲孔→鉆孔1→板電1→圖電1→鉆孔2→樹脂塞孔→研磨→外層1→減銅→研磨→鉆孔3→板電2→外層2→圖電2-背鉆→堿性蝕刻→外檢→防焊→文字→阻抗測試→化金→鉆孔4→成型→成測→ FQC →包裝

       對比原流程與新流程,原流程 PCB 板鍍銅3次(板電、CAPPING 電鍍和圖形電鍍各1次),新流程制作在原流程的基礎(chǔ)上把鉆孔和板電工序各新增加一次把原鉆孔一次性把所有通孔和控深孔鉆完,分為兩次生產(chǎn)作業(yè)第一次鉆需要塞樹脂的通孔和控深孔先鉆孔完成,生產(chǎn)完后轉(zhuǎn)樹脂塞孔再 CAPPING 電鍍;第二次鉆非樹脂塞的孔,后續(xù)再轉(zhuǎn)板電流程,續(xù)流外層圖電正常流程作業(yè)。此改善方案有效避免所有通孔和控深孔鉆經(jīng)過 3次鍍銅的工序,不易管控孔銅和面銅厚度問題。確保鍍銅品質(zhì)和產(chǎn)品阻抗和損耗的公格率提升。


03

服務(wù)器主板 PCB 的制作過程

1、開料

       根據(jù)客戶要求,設(shè)計好生產(chǎn)板工作尺寸,選用好大張的基板材料開料后。也有依據(jù)需要尺寸,請購口已裁切好的 PNL 小尺寸基板,經(jīng)烘烤(190℃℃ *4H)下轉(zhuǎn)下工序制作。

2、內(nèi)層

       依據(jù)客戶提供 PCB 設(shè)計藍圖,因尺寸較大,排版1PCS/PNL。使用客戶指定的松下基板,進行內(nèi)層線路制作。用LDI專用油墨,膜厚控制11±2um,曝光采用大族 LDI,線寬管控層別:L3/L5/L7/L9/L14/L16/L18/L20,成品線寬:3.5mil,成品線距4mil,線寬蝕刻公差士20%,實際阻抗線管控+8%~7%。選擇蝕刻均勻性>97%的線體生產(chǎn),同條線路上中下線寬控制0.1mil以內(nèi)。蝕刻1/10Z參數(shù)5.3M/MIN;2/20Z參數(shù)3.5M/MIN。

3、內(nèi)檢

      依據(jù)相關(guān)只可修殘銅,不允許補線。AOI偵查超細線功能,依據(jù)原稿設(shè)計參數(shù)作業(yè),首件良率 95%以上量產(chǎn),批量制作完后全檢 AOI,其 L2-L21良率在90%~100%。

4、壓合

       棕化前PE沖孔沖7顆孔,除L形3孔以外,還需以中心鉆孔方式?jīng)_出其他外圍4顆孔,靶距:X1=399.397mm,X2=404.397mm,Y=583.238mm,棕化按 5m/min 線速,高速材料棕化站需烘板,烘120℃ *60 分鐘。棕化后管控12小時以內(nèi)熔合鉚合完,首板檢驗層偏合格后量產(chǎn)全檢層偏,PP張數(shù),內(nèi)層 Core的正確率 100%。壓會使用專用M6程作業(yè)(博可壓機抽真空多增加5分鐘)。FA 首件板切片介層厚度(基板及 PP)公差:±10%,熱TMA測TG值DetalTG,CTE,熱應(yīng)力測試合格后量產(chǎn)。

圖6 傳統(tǒng)藥水與低粗糙度藥水生產(chǎn) PCB 差分微帶線的損耗對

表3 傳統(tǒng)藥水與低粗糙度藥水處理后銅粗糙度測試結(jié)果


5、鐳射盲孔

       依據(jù)鐳射程序使用ConformmalMask作業(yè),開窗大小與鐳射孔等大管控。L13/L12層鐳射盲孔,程式副檔名為:*.S13/S12。生產(chǎn)首件測量孔寬度及深度IPQC 確認合格后量產(chǎn)。

6、 鉆孔 1

       僅鉆需樹脂塞孔的 PTH(客戶指定過孔及需樹脂塞孔背鉆對應(yīng)的通孔)使用高難度參數(shù)生產(chǎn),孔小于0.5mm鉆咀使用全新的鉆咀,孔壽命設(shè)置 500 次更換。首板檢查無孔偏,量產(chǎn)完使用驗孔機 100%檢查。檢測通孔及壓接孔孔徑是否堵孔。并測量孔精度的 CPK>1.33。

表4 鉆孔參數(shù)表


7 、板電 1

       先等離子除膠,生產(chǎn)前烘烤,其條件190度*2H。烘烤完后停留時間≤4小時,轉(zhuǎn)沉銅水平線作業(yè)。采用六處脈沖電鍍制作,確??足~在 0.9~1.0mil。

8、圖電 1

       鉆孔后進行高壓水洗后轉(zhuǎn)圖電,先整板鍍錫,鍍錫參數(shù):10ASF*15Min。要求只鍍錫不鍍銅作業(yè)。

9 、鉆孔 2

      圖電后轉(zhuǎn)鉆孔進行機械背鉆,分別第一和第四象限,鉆出不同深度。第一象限是從第一層,分別鉆到L4/6/8/13/15/17/19,不可鉆穿對應(yīng)的次層L5/7/9/14/16/18/20。其深度分別為0.36mm0.65mm,0.94mm,1.71mm,1.9mm,2.29mm,2.58mm.其Stub值皆為7+5mil制作首件板切片分析背鉆孔深度值,符合要求后量產(chǎn);第四象限是從第 22層,分別鉆到L19/17/15/10/8/6/4,不可鉆穿對應(yīng)的次層L18/16/14/7/5/3。其深度分別為0.36mm,0.65mm,0.94mm,1.71mm,1.9mm,229mm,2.58mm。其 Stub值皆為7±m(xù)il,背鉆深度大于1.0mm,分三步,量產(chǎn)前制作首板切片分析背鉆孔深度值,符合要求后量產(chǎn)背鉆完高壓水洗壓力 2.5kg/cm’,水洗后檢查,確保背鉆無堵孔。

圖7 22層背鉆深度切片確認后結(jié)果

10、樹脂塞孔

      油墨使用山榮10HF塞孔油墨,樹脂塞孔與小孔背鉆孔一起塞孔,需塞孔兩次,正反兩面各塞次。塞孔鋁片分別命名為:SZSK2-1,SZSK2-2,塞孔研磨后 AOI全檢,不可漏塞,塞不滿,飽滿度100%。

11、研磨

       將板面多余的樹脂研磨掉,保持板面平整。面銅控制 1.2~1.5mil。

12 、外層 1

     干膜封孔,使用鴻瑞干膜HD250,蓋孔的干膜寬度:24inch,干膜封孔,CAM 需設(shè)計出底片(正片,僅封樹脂塞的 PTH 孔),工具名:L1gk;L22gk,使用IDI曝光,能量 90mj;顯影速度 4m/min。

13、減銅

      使用專線減銅厚度到0.9±0.1mi。生產(chǎn)前后使用銅厚測量儀測量銅厚值合格,記錄數(shù)據(jù)供后制程參考。

14、研磨

       減銅后去膜板面干膜轉(zhuǎn)板研磨線生產(chǎn),研磨一次測量面銅厚度,磨板后銅厚控制 0.7~0.9mil,符合要求即可。

15、鉆孔 3

      鉆非樹脂塞孔的孔,使用 CCD鉆機生產(chǎn)。鉆孔程式副檔名:2nd;2nd.inn。鉆孔使用高難度參數(shù)生產(chǎn),孔位公差士0.05mm,0.99mmNPTH孔公差+0.05/-0.025mm,鉆咀研次≤2次。裝托盤轉(zhuǎn)板。

16、板電 2

       銅后切片首六處脈沖電鍍,沉銅板電 0.3~0.5mil,件確認壓接孔孔銅厚度要求。

17、外層 2

       板電后轉(zhuǎn)外層前處理,4m/min 速度進無塵車間壓膜作業(yè),使用干膜寬度:23.875inch。背鉆孔雙面開窗保證鍍錫良好,底片類型:正,工作稿線寬:4.7mil工作稿線距:2.6mil。

18、圖電 2

電鍍最小 0.7mil,成品面銅最小1.9mil,孔銅最小 0.8mil,樹脂塞孔的過孔需做 Capping 電鍍,凹陷度< 25μm,量平整對于成品<0.50mm 孔,孔銅必須>18μm,其他按最小20um,平均25m。滿足壓接孔的孔徑公差±0.05mm。

19、背鉆

       第四象限是從第22層,分別鉆到L19/17/15/10/6,不可鉆穿對應(yīng)的次層L18/16/14/9/5。其深度分別為0.36mm,0.65mm:0.94mm,1.71mm,2.29mm,其Stub值為7+5mil制作首板切片分析背鉆孔深度值,符合要求后量產(chǎn)背鉆完高壓水洗壓力 2.5kg/cm’,水洗后檢查,確保背鉆無堵孔。

20、堿性蝕刻

      成品線寬:3.5mil,成品間距:4mil,線寬蝕刻公差±20%。SMT焊盤公差控制標準為:>15mil的SMT焊熱依原稿大小的土20%,≤15mil的SMT公差按 +2/-0.5mil管控。特殊管制:首件一般線公差按士10%,阻抗線按士8%進行管控。選擇蝕刻均性>95%的線體生產(chǎn),同條線路上中下線寬控制0.2mil以內(nèi)。蝕刻大于 10Z 參數(shù) 5.5m/min。

21、外檢 AOI

       成品外層環(huán)寬(支撐/壓接)孔應(yīng)>50um,非支撐孔(即不插件的 PTH)應(yīng)>20um,按圖紙要求測試指定區(qū)域,測量工程部標出所有需要測試線寬/線距位置。線路殘銅短路可修補,開路缺口不可修補。批量制作完后全檢AOI,其良率L1:85%,L22:90%。AOI后插架烤板烤板 150度 *6H,后轉(zhuǎn)防焊。

22、防焊

    阻焊面:C+S面,阻焊油墨顏色:深綠色,粘度100~120dpa,最小阻焊厚度:0.4mil,最大阻焊厚度:0.866mil。先使用鋁片塞孔,然后印刷防焊面油,印刷濕膜厚度控制 35~40μm。PAD 中心間距≤0.4mm基材上防焊厚度不得高于 SMT 高度 15um,其他間距pad 基材防焊厚度不能高過 SMT 高度。線角>4um,基材上的阻焊必須比相鄰焊接PAD<5wm,走線上阻焊比相鄰焊接PAD≤50μm,塞孔不可高出銅面60μm。采用網(wǎng)屏DI機曝光,自動漲縮對位,PE管控 ±20μm,曝光能量控制 11~12 格。

23、文字

      文字油墨白色,字符面:C+S面。ULMark:斜兄+R SH27 94V-0,周期格式:wWYY。

24、阻抗測試

      客戶提供 SI測試 Coupon,Deltal法設(shè)計兩條不同長度的傳輸線,測量 Loss條中2、5、10inch 的線在4GHz,8GHz,12.89GHz,16GHz內(nèi)外層的85歐姻Loss 值,詳見Loss 圖紙,需側(cè)板內(nèi)阻抗,有測試點菲林。

25、化金

       化金金厚最小:2u",化金金厚最大值:10u",化金鎳厚最小值:118u"。鎳腐蝕按廠規(guī)管控<20%;槽 MTO 不可超過 2,隔槽插架,首件金鎳厚合格后方可批量生產(chǎn),量產(chǎn)完隔紙放盤轉(zhuǎn)板。

26、鉆孔 4

      使用第一象限,鉆孔程式副檔名:3nd;3nd.inn,用CCD 鉆機生產(chǎn),鉆咀研次≤2次,芯片BGAPAD 與周圍成品大小1.016mm(0.991mm)孔位置度公差0.035mm,成品大小3.175mm孔位置度公差±0.05mm,使用CCD抓單元內(nèi)光學(xué)點(工藝反饋BGA PAD 無法抓取)以二鉆方式加工。

27、 成型

其方式:CNC,成型后尺寸為寬417mm*長400mm,出貨面積:0.1668m。鑼板前需將板邊和LOSS Coupon 編號,貼標簽轉(zhuǎn)移至板內(nèi)。

28 、測試

使用飛針板彎翔小于 0.7%,板翔厚度:4.04mm。

全測,100%找點分析報告,其一次良率 90%。

3.29 FQC

品保規(guī)格:IPC-A-6002級。其一次良率 80%。

3.30 包裝

依據(jù)客戶要求包裝方式進行包裝作業(yè),包裝完及時入庫恒溫恒濕儲存。PCB 相關(guān)測試見表 5。


04

保持清潔衛(wèi)生

1、 高速 PCB 良率總結(jié)

        通過全制程 NPI跟進制作,其主要制程的良率統(tǒng)計如圖 8。

圖8 22層PCB相關(guān)制程良率趨勢圖

小結(jié): 此料號 22層服務(wù)器 PCB 從制程良率來看符合 FA 板中多層板(>10L)首次制作大于 85%,后續(xù)良率提升,工藝針對各制程不良進行詳細分析,制定改善對策,跟進持續(xù)改善。


2、成品 LOSS 檢測結(jié)果

       22 層服務(wù)器 PCB,制作完成品 FQC 檢驗合格后,送實驗室測試 LOSS,并分析判定測量數(shù)據(jù)

表5 PCB 相關(guān)測試


3、PCB 阻抗總結(jié)

       通過此批高速 PCB 制作,總結(jié)制程中制作低損耗的需求,從材料選擇、介質(zhì)匹配、銅選用及棕化處理程度,以及流程優(yōu)化、背鉆深度做嚴格管控。后續(xù)生產(chǎn)相關(guān)類似的產(chǎn)品提供參考方法。

       高速 PCB 制作過程中,結(jié)公各制程其良率分析(測試結(jié)果見表 6、表7和表8)如下:

(1) 內(nèi)層一次良率為 91%,不良率 9%,次品缺陷中前三大為:開路,板折,殘銅。主要原因為內(nèi)層 20Z芯板厚 0.05um,過水平線容易褶皺和卡板。搬運易

板折出現(xiàn)。

(2) 外層一次良率為 90%,不良率 10%,次品缺陷中前三大為:短路,殘銅,刮傷。主要原因為板邊鍍銅厚度不均,個別處出現(xiàn)蝕刻不凈,殘銅造成短路。

(3) ET測試良率88%,不良板2PNL,不良率12%。不良缺陷開路與短路各 1PNL。外層開路1PNI為劃傷線路,短路 1PNL通過水平切片分析為內(nèi)層異物造成短路異常。

(4) FQC 檢驗一次良率為 86%,不良率 14%,不良板 2PNL 主要缺陷為 1PNL防焊異物,刮傷,另1PNL為金面粗糙。

表6 服務(wù)器22層的阻抗測量


表7 服務(wù)器22層高速PCB的損耗測量(頻率1~2)


表8 服務(wù)器22層高速PCB的損耗測量(頻率3~4)


4、 高速 PCB 的損耗總結(jié)

(1)高速 PCB的損耗,確保產(chǎn)品通過率,必須使用低損耗材料制作。同種材料,不同的介質(zhì)含量,因其厚度差異對損耗存在影響,此次制作采用75%與70%的含膠量測試損耗亞均值分別為0.336和0.352,其損耗前者比后者減少 1%~3%。

(2)高速 PCB 的損耗通過使用低粗糙度棕化藥水與傳統(tǒng)棕化藥水對比測試出損耗平均值為,低粗糙度棕化藥水對降低損耗有貢獻度,比傳統(tǒng)棕化藥水的產(chǎn)品損耗偏小 3~7% 的優(yōu)勢。

(3)高速 PCB 的損耗通過使用排版旋轉(zhuǎn)角度(目的減少玻纖效應(yīng)降低損耗),同一種棕化藥水生產(chǎn)的旋轉(zhuǎn)7度角比旋轉(zhuǎn)3度角,其損耗有降低 2~3%。


參考文獻

[1]程柳軍.玻纖效應(yīng)對高速信號的影響 [.印制電路信息,2015.82



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